该系统集成静态与动态电性能测试功能，适用于IGBT、SiC MOSFET等功率器件的生产和研发过程。系统采用模块化架构，可灵活配置测试单元，实现TO-247、TO-220、TO-264、SOT-227等引脚封装及DBC裸片器件的快速切换。支持自动夹持、自动探针定位、自动参数测试及数据记录功能，兼容工业与车规标准，适用于中小型企业或实验室中低端应用场景。

静态测试模块
测试项目	VGE(th)、IC-VCE、RDS(on)（适用于MOSFET）、漏电流、栅漏电流等
电压输出范围	0~6000V DC（±0.5%精度，典型值±0.3%）
电流输出范围	0~2000A DC（±1%精度，典型值±0.8%）
最小电压分辨率	1μV（18-bit ADC精度）
最小电流分辨率	10μA（20-bit DAC驱动）
电压调整速率	可编程，0.1V/ms ~ 100V/ms
电流过载保护	软件+硬件双重限流控制（触发延时<5μs）
测温支持	可选温控夹具，支持室温至150°C控制测试
动态测试模块
支持测试项目	双脉冲测试、开关损耗测试、反向恢复特性、共模/差模干扰测试
带宽	500 MHz（-3dB，使用低阻抗探头）
采样率	2.5 GS/s（每通道独立采样，支持深存储>50M点）
隔离通道数量	4通道（光电隔离）
电压探头 ×2	最大量程±2000V，精度±0.8%，共模抑制比≥60dB@100MHz
电流探头 ×2	霍尔或电流互感器输入，最大量程±1000A，频率响应10Hz~50MHz
驱动电路	内置双脉冲门极驱动器（±15V/2A输出），上升/下降时间<50ns，可调
兼容性与标准支持
支持封装类型	TO-220、TO-247、TO-264、SOT-227、DBC、裸晶片测试平台（需选配）
测试标准支持	AEC-Q101（车规标准）测试项目完整覆盖：VBR、IGSS、VCE(sat)、td(on/off)、Eon/Eoff 等 IEC 60747-9（工业用半导体器件测试标准）动态响应、电气特性规范
测试环境要求
操作温度	10~35°C
湿度范围	20~80% RH（无凝露）
电源要求	AC 220V ±10%，50/60Hz，功率≤2kW
系统性能
测试速度	≤30秒/器件（包含静态+动态参数全覆盖，自动切换）
自动化功能
自动探针压接检测	接触确认
测试失败报警与标记系统	支持
批量测试与数据导出	支持CSV、Excel、SQL兼容
用户界面
屏幕	触控式HMI屏幕（10.1英寸）
上位机软件	支持Windows 10/11，USB或LAN接口连接
自定义功能	测试流程、判定条件、报表模板可自定义
扩展性与选配模块
温控平台	室温~150°C
高频大电流驱动器	>5A门极驱动
高压绝缘探头	支持
自动进样机械臂接口	适配流水线